SSDには226個の不良セクターがあります。それは重要ですか？
Ubuntu 13.04。 SSDの不良セクタの数は、今日226個の不良セクタまで着実に増加しています。
問題は、226個の不良セクターがSSDの0.0001％、SSDの1％、またはSSDの99％であるかどうかはわかりません。
今朝、インターネット上でこの質問に答えられるものは見つかりませんでした。
Disksユーティリティでも通知されず、SMART Dataの情報が見つかりません。
Sudo smartctl -a /dev/sdaはこれを示しています。
smartctl 5.43 2012-06-30 r3573 [x86_64-linux-3.8.0-31-generic] (local build)
Copyright (C) 2002-12 by Bruce Allen, http://smartmontools.sourceforge.net
=== START OF INFORMATION SECTION ===
Device Model: Samsung SSD 840 PRO Series
Serial Number: S1ATNEAD645474H
LU WWN Device Id: 5 002538 5503c15c0
Firmware Version: DXM05B0Q
User Capacity: 256,060,514,304 bytes [256 GB]
Sector Size: 512 bytes logical/physical
Device is: Not in smartctl database [for details use: -P showall]
ATA Version is: 8
ATA Standard is: ATA-8-ACS revision 4c
Local Time is: Fri Jan 24 20:37:08 2014 CST
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x00) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status: ( 0) The previous self-test routine completed
without error or no self-test has ever
been run.
Total time to complete Offline
data collection: (53956) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x53) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
No Offline surface scan supported.
Self-test supported.
No Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 20) minutes.
SCT capabilities: (0x003d) SCT Status supported.
SCT Error Recovery Control supported.
SCT Feature Control supported.
SCT Data Table supported.
SMART Attributes Data Structure revision number: 1
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 097 097 010 Pre-fail Always - 238
9 Power_On_Hours 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 1331
12 Power_Cycle_Count 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 341
177 Wear_Leveling_Count 0x0013 097 097 000 Pre-fail Always - 75
179 Used_Rsvd_Blk_Cnt_Tot 0x0013 097 097 010 Pre-fail Always - 238
181 Program_Fail_Cnt_Total 0x0032 097 097 010 Old_age Always - 238
182 Erase_Fail_Count_Total 0x0032 100 100 010 Old_age Always - 0
183 Runtime_Bad_Block 0x0013 097 097 010 Pre-fail Always - 238
187 Reported_Uncorrect 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 0
190 Airflow_Temperature_Cel 0x0032 067 062 000 Old_age Always - 33
195 Hardware_ECC_Recovered 0x001a 200 200 000 Old_age Always - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x003e 099 099 000 Old_age Always - 1
235 Unknown_Attribute 0x0012 099 099 000 Old_age Always - 128
241 Total_LBAs_Written 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 33308592070
SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged
SMART Self-test log structure revision number 1
No self-tests have been logged. [To run self-tests, use: smartctl -t]
SMART Selective self-test log data structure revision number 1
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Not_testing
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
255 0 65535 Read_scanning was never started
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
Samsung 840 Pro SSDは2014年後半に壊滅的な障害が発生しました。Samsung850 Proが保証付きで交換されました。Samsung850 Proはそれ以降正常に動作しており、anybad sector。私は多分それがSSDの「文書化されていない機能」だと思ったので、それは嬉しいです。
SSDのスマートデータは、SSDを1331時間使用し、SSDが33308592070 * 512/1024 ^ 4 = 15,5 TiBの書き込みを受けたことを示しています。それは約を意味します。 12 GiB電源オン時間ごとのSSDの書き込み。これは、一般的なコンシューマーSSDの使用にはかなり大きな影響があります。 SSDは何のために使用しますか？
MLCベースのSSDである書き込みサイクルの制限をまだ下回っているので、caを許容する必要があります。 3000回の書き込みサイクル。 256GB * 3000 = 768 TB書き込み。だから私はあなたが安全だと言うでしょう。
しかし、SMARTデータは、すでに238の再割り当て（失敗）セクターがあることを示しています。ドライブの数億セクターと比較すると、その数はまだ非常に少ないですが、私にとっては、書き込みサイクルが60〜70回しかなかった後、SSDでブロックが失敗するのは驚くべきことです。 SSDに予備のスペースはありますか？ SSDには、ドライブの摩耗を効率的に管理するための予備スペースが必要です。ドライブがほぼ満杯の場合、ウェアレベリングアルゴリズムの書き込みが増えるため、ドライブの摩耗が速くなります。
ここ は、書き込みテスト中の840 PRO 256 GB SSDを示すグラフです。 300 TB書き込み後、まだゼロ、またはゼロに非常に近い再割り当てセクターがあります。 20 TB未満で200を超えています。
ドライブの最新のファームウェアを使用しています。心配する必要はありませんが、そのSMART出力についてSamsungに連絡し、意見を聞いてください。ドライブに何らかの問題があると思います。
更新：
サムスンの応答-基本的にはすべてがうまくいっていると言った-私はあなたがデータ損失に遭遇しない限り（それは書き込み操作中に不良ブロックが発見された限り）、あなたが心配する必要はないと思います。
不良ブロックの数は、Runtime_bad_block行（238、Raw値）での合計で確認できますProgram_Fail_Cnt_Total（238、失敗した書き込み操作です）Erase_Fail_Count_Total（0、失敗した消去操作です）失敗した読み取り操作。したがって、スマート出力が生成された時点でのドライブでの読み取り操作の失敗は238-238-0 = 0であるため、読み取りの失敗はなく、データの損失はありません。
ドライブが近い将来に失敗した読み取りに遭遇し始めた場合（つまり、Runtime_bad_blockは等しくないProgram_Fail_Cnt_Total+Erase_Fail_Count_Total）、潜在的なデータ損失、私はサムスンに再連絡します。それまでは、SSDをお楽しみください。